我是做高分子纳米材料的，最近做的自组装纳米粒进行粒度测量的时候，结果非常怪异，在十几nm左右总是有一个到两个小峰出现，而且同一个样品每次测量都有比较大的差别，不知道是什么原因，苦恼中，不知道那位高手能帮忙解释一下，在此先了！

用什么仪器测的？会不会是测量过程中粒子相互碰撞破碎了？
选择适当的测量介质（不溶解测定样品，不易产生气泡），背景平衡很重要。

每测量一个样品后样品池要彻底清洁干净，特别是使用动态循环样品池。

每次样品的取用量应相近，虽然表面看与用量没有大的关系，真正操作中发现对重现性很有影响。

我是做高分子纳米材料的，最近做的自组装纳米粒进行粒度测量的时候，结果非常怪异，在十几nm左右总是有一个到两个小峰出现，而且同一个样品每次测量都有比较大的差别，不知道是什么原因，苦恼中，不知道那位高手能帮忙解释一下，在此先了！